CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Knjige - Cambridge University Press - 9781107408326 - 5. junija 2014
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

Cena
€ 40,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 16. - 30. jun

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Na voljo tudi kot:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

194 pages, black & white illustrations

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 5. junija 2014
ISBN13 9781107408326
Založniki Cambridge University Press
Strani 194
Dimenzije 152 × 229 × 10 mm   ·   412 g   (Teža (ocenjena))
Jezik Angleščina  
Urednik Butterbaugh, Jeffery W.
Urednik Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Urednik Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Urednik Rachmady, Willy
Urednik Taylor, Bill

Mere med samme udgiver