Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - 29. oktobra 2010
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Cena
€ 217,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 18. - 26. jun

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Na voljo tudi kot:

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 29. oktobra 2010
ISBN13 9781441922090
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 522
Dimenzije 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
Jezik Angleščina  
Urednik Wang, Zhong Lin
Urednik Zhou, Weilie

Mere med samme udgiver

Ogled vseh Weilie Zhou ( Na primer Hardcover Book in Paperback Book )