High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 31. januarja 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Cena
€ 94,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 17. - 25. jun
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Na voljo tudi kot:

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 31. januarja 2012
Prvotni datum izida 2011
ISBN13 9781441999757
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 193
Dimenzije 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Jezik Angleščina  

Mere med samme udgiver