Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Sayil - Knjige - Springer International Publishing AG - 9783319696720 - 4. decembra 2017
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques 1st ed. 2018 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 3. - 11. avg
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Sayil

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.

93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

Medij Knjige     Book
Izdano 4. decembra 2017
ISBN13 9783319696720
Založniki Springer International Publishing AG
Strani 93
Dimenzije 150 × 220 × 20 mm   ·   343 g
Jezik Nemščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Sayil ( Na primer Book )