Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642093418 - 30. novembra 2010
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Cena
€ 103,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 25. jun - 3. jul

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Na voljo tudi kot:

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

446 pages, 25 black & white tables, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 30. novembra 2010
ISBN13 9783642093418
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 387
Dimenzije 155 × 235 × 23 mm   ·   674 g
Jezik Nemščina  
Urednik Bhushan, Bharat
Urednik Fuchs, Harald
Urednik Tomitori, Masahiko

Mere med samme udgiver