Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing - Leendert M. Huisman - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387249933 - 21. junija 2005
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 5. - 13. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Leendert M. Huisman
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.


250 pages, 46 black & white illustrations, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 21. junija 2005
ISBN13 9780387249933
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 250
Dimenzije 155 × 235 × 15 mm   ·   576 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**