Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests - Nisar Ahmed - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387764863 - 20. decembra 2007
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Nisar Ahmed
Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests 2008 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 28. okt - 5. nov
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Nisar Ahmed

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Supply noise (including IR-drop, ground bounce, and Ldi/dt) effects on chip performance, high test pattern volume, low fault/defect coverage, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.

304 pages, 1, black & white illustrations

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 20. decembra 2007
ISBN13 9780387764863
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 281
Dimenzije 164 × 242 × 22 mm   ·   626 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Nisar Ahmed