Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective - Eugene R. Hnatek - Knjige - Kluwer Academic Publishers Group - 9780442006433 - 31. avgusta 1993
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective 1993 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 24. nov - 2. dec
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Eugene R. Hnatek
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a


180 pages, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 31. avgusta 1993
ISBN13 9780442006433
Založniki Kluwer Academic Publishers Group
Strani 180
Dimenzije 156 × 234 × 12 mm   ·   476 g
Jezik Angleščina  

Več od Eugene R. Hnatek

Več od istega **izdajatelja**