2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed - Ieee - Knjige - IEEE Computer Society Press,U.S. - 9780769507019 - 1. novembra 2000
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Ieee
2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed

Prejmite e-pošto, ko bo izdelek na voljo
Do you have a profile? Prijava
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Ieee

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

The 25 papers cover delay testing and test scheduling, scan and functional testing, system testing, quiescent current testing, analog and mixed-signal testing, core-based testing, fault simulation and field programmable gate array testing, challenges in deep sub-micron testing, high level tests, mem

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 1. novembra 2000
ISBN13 9780769507019
Založniki IEEE Computer Society Press,U.S.
Strani 181
Dimenzije 216 × 273 × 13 mm   ·   650 g   (Teža (ocenjena))
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Ieee