Povej prijatelju o tem izdelku:
VLSI Test Symposium (VTS 2004) Ieee
Do you have a profile? Prijava
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Ieee
Dodaj na svoj seznam želja iMusic
VLSI Test Symposium (VTS 2004)
Ieee
The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.
| Medij | Knjige Paperback Book (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom) |
| Izdano | 2004 |
| ISBN13 | 9780769521343 |
| Založniki | IEEE Computer Society Press,U.S. |
| Strani | 550 |
| Dimenzije | 150 × 220 × 10 mm · 911 g (Teža (ocenjena)) |
| Jezik | Angleščina |