Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing - Frans P. M. Beenker - Knjige - Kluwer Academic Publishers - 9780792396581 - 30. novembra 1995
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing 1995 Edition

Cena
€ 143,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 3. - 11. dec
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Frans P. M. Beenker
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Considering the testability aspects for digital ICs, this book integrates the testability aspects into the design and manufacturing of ICs and, for each IC design project, gives a precise definition of the boundary conditions, responsibilities, interfaces and communications between persons, and quality targets.


212 pages, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 30. novembra 1995
ISBN13 9780792396581
Založniki Kluwer Academic Publishers
Strani 212
Dimenzije 170 × 244 × 14 mm   ·   498 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**