Microelectronic Reliability Vol. I: Test - Edward B. Hakim - Knjige - Artech House Publishers - 9780890062845 - 31. januarja 1989
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Microelectronic Reliability Vol. I: Test

Cena
€ 146,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 8. - 22. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Edward B. Hakim
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought


396 pages, 1, black & white illustrations

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 31. januarja 1989
ISBN13 9780890062845
Založniki Artech House Publishers
Strani 396
Dimenzije 161 × 238 × 30 mm   ·   771 g
Urednik Hakim, Edward B.

Več od istega **izdajatelja**