Povej prijatelju o tem izdelku:
VLSI Fault Modeling and Testing Techniques George W. Zobrist
Cena
€ 85,99
Naročeno iz oddaljenega skladišča
Predvidena dobava 10. - 24. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca George W. Zobrist
Kaj pravijo naše stranke:
Dodaj na svoj seznam želja iMusic
VLSI Fault Modeling and Testing Techniques
George W. Zobrist
This text explores VLSI fault modelling and testing techniques and covers such topics as: physical fault modelling and simulation for VSLI MOS circuits; designing CMOS gates to test open faults; testing bridging faults in VLSI; and testable design synthesis models.
208 pages, 1, black & white illustrations
| Medij | Knjige Hardcover Book (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami) |
| Izdano | 1. maja 1993 |
| ISBN13 | 9780893917814 |
| Založniki | Bloomsbury Publishing Plc |
| Strani | 200 |
| Dimenzije | 160 × 230 × 17 mm · 412 g |
| Jezik | Angleščina |
| Urednik | Zobrist, George W. |
