Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 - MRS Proceedings -  - Knjige - Cambridge University Press - 9781107409484 - 5. junija 2014
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 - MRS Proceedings

Cena
€ 41,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 14. - 28. jul
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.


514 pages, black & white illustrations

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 5. junija 2014
ISBN13 9781107409484
Založniki Cambridge University Press
Strani 514
Dimenzije 152 × 229 × 26 mm   ·   812 g   (Teža (ocenjena))
Jezik Angleščina  
Urednik Filter, William F.
Urednik Frost, Harold J. (Dartmouth College, New Hampshire)
Urednik Ho, Paul S. (University of Texas, Austin)
Urednik Rodbell, Kenneth P. (IBM T J Watson Research Center, New York)

Mere med samme udgiver