A Simple Non-Destructive Method for Characterizing Nondispersive, Low-Loss Dielectrics - Thomas S Olney - Knjige - Biblioscholar - 9781249600619 - 10. oktobra 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

A Simple Non-Destructive Method for Characterizing Nondispersive, Low-Loss Dielectrics

Cena
€ 20,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 7. - 21. sep
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Thomas S Olney
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

92 pages, Illustrations, black and white

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 10. oktobra 2012
ISBN13 9781249600619
Založniki Biblioscholar
Strani 92
Dimenzije 189 × 246 × 5 mm   ·   136 g

Ogled vseh Thomas S Olney ( Na primer Paperback Book )