CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing - Andrei Pavlov - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402083624 - 21. junija 2008
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Andrei Pavlov
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing 2008 edition

Cena
€ 182,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 13. - 27. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Andrei Pavlov

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

210 pages, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 21. junija 2008
ISBN13 9781402083624
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 194
Dimenzije 166 × 239 × 19 mm   ·   476 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Andrei Pavlov