Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441909305 - 16. novembra 2009
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Rajesh Garg
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

Cena
€ 166,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 21. sep - 5. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Rajesh Garg

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.

212 pages, 28 black & white tables, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 16. novembra 2009
ISBN13 9781441909305
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 212
Dimenzije 159 × 238 × 24 mm   ·   508 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Rajesh Garg