Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952875 - 21. septembra 2011
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

J. Altet
Thermal Testing of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Cena
€ 111,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 31. avg - 14. sep
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca J. Altet

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.

204 pages, 102 black & white illustrations, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 21. septembra 2011
ISBN13 9781441952875
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 204
Dimenzije 155 × 235 × 12 mm   ·   322 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh J. Altet ( Na primer Hardcover Book in Paperback Book )