Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems - Tomi Laurila - Knjige - Springer London Ltd - 9781447160687 - 22. februarja 2014
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

Cena
€ 143,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 1. - 9. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Tomi Laurila
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.


218 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 22. februarja 2014
ISBN13 9781447160687
Založniki Springer London Ltd
Strani 218
Dimenzije 155 × 235 × 15 mm   ·   317 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**