From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing - Jitendra B. Khare - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461285953 - 26. septembra 2011
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Jitendra B. Khare
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1996 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 12. - 20. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Jitendra B. Khare

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

150 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 26. septembra 2011
ISBN13 9781461285953
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 150
Dimenzije 155 × 235 × 9 mm   ·   249 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Jitendra B. Khare