Hierarchical Modeling for Vlsi  Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461288190 - 26. septembra 2011
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1990 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 20. - 30. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Debashis Bhattacharya
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

160 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 26. septembra 2011
ISBN13 9781461288190
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 160
Dimenzije 155 × 235 × 10 mm   ·   254 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**