Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 1 - Otto Meyer - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588788 - 31. maja 2013
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 1 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Cena
€ 50,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 30. jul - 7. avg
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Otto Meyer
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


524 pages, black & white illustrations

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 31. maja 2013
ISBN13 9781461588788
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 494
Dimenzije 178 × 254 × 26 mm   ·   898 g
Jezik Angleščina  

Več od Otto Meyer

Prikaži vse

Več od te serije

Več od istega **izdajatelja**