Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 30. januarja 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Cena
€ 50,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 22. - 30. jun
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 30. januarja 2012
ISBN13 9781461588818
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 491
Dimenzije 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Jezik Angleščina  
Urednik Meyer, Otto

Več od Otto Meyer

Prikaži vse

Mere med samme udgiver

Več od te serije