Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods - NATO Science Series B - B.K. Tanner - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475711288 - 16. decembra 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods - NATO Science Series B Softcover reprint of the original 1st ed. 1980 edition

Cena
€ 50,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 13. - 23. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca B.K. Tanner
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

This book contains the proceedings of a NATO Advanced Study Institute entitled "Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods' held in the University of Durham, England from 29th August to 10th September 1979.


589 pages, 556 black & white illustrations, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 16. decembra 2012
ISBN13 9781475711288
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 589
Dimenzije 178 × 254 × 31 mm   ·   1,05 kg
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**