Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 4. junija 2013
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Cena
€ 152,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 24. jun - 2. jul

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Na voljo tudi kot:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 4. junija 2013
ISBN13 9781489915245
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 462
Dimenzije 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Jezik Angleščina  
Urednik Thong, John T.L.

Mere med samme udgiver

Ogled vseh John T L Thong ( Na primer Hardcover Book in Paperback Book )