Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489983138 - 5. septembra 2014
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices 2010 edition

Cena
€ 103,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 20. - 28. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Patrick Girard
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.


363 pages, 24 black & white tables, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 5. septembra 2014
ISBN13 9781489983138
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 363
Dimenzije 155 × 235 × 20 mm   ·   539 g
Jezik Angleščina  
Urednik Girard, Patrick
Urednik Nicolici, Nicola
Urednik Wen, Xiaoqing

Več od Patrick Girard

Več od istega **izdajatelja**