Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield - Mohamed Abu Rahma - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493902200 - 15. oktobra 2014
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield 2013 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 18. - 26. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Mohamed Abu Rahma
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.


172 pages, 5 black & white tables, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 15. oktobra 2014
ISBN13 9781493902200
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 172
Dimenzije 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**