Bias Temperature Instability for Devices and Circuits - - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493955299 - 1. oktobra 2016
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition

Cena
€ 103,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 11. - 19. avg

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

821 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 1. oktobra 2016
ISBN13 9781493955299
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 810
Dimenzije 150 × 220 × 10 mm   ·   1,37 kg
Jezik Angleščina  
Urednik Grasser, Tibor

Več od istega **izdajatelja**