Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection - Fred Stevie - Knjige - Momentum Press - 9781606505885 - 15. septembra 2015
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Fred Stevie
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection

Cena
€ 59,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 3. - 17. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Fred Stevie

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

150 pages

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 15. septembra 2015
ISBN13 9781606505885
Založniki Momentum Press
Strani 150
Dimenzije 152 × 229 × 16 mm   ·   390 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Fred Stevie