Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method - Pierre-Richard Dahoo - Knjige - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306876 - 6. aprila 2021
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Cena
€ 160,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 13. - 27. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Pierre-Richard Dahoo
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

288 pages

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 6. aprila 2021
ISBN13 9781786306876
Založniki ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Strani 288
Dimenzije 150 × 220 × 20 mm   ·   562 g
Jezik Angleščina  

Več od Pierre-Richard Dahoo

Več od istega **izdajatelja**