Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Knjige - Springer London Ltd - 9781848820586 - 1. decembra 2008
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes 2009 edition

Cena
€ 167,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 25. avg - 8. sep
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Edmund G. Seebauer
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 1. decembra 2008
ISBN13 9781848820586
Založniki Springer London Ltd
Strani 298
Dimenzije 155 × 235 × 25 mm   ·   635 g
Jezik Angleščina  

Več od istega **izdajatelja**