Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Knjige - Springer London Ltd - 9781849968201 - 22. oktobra 2010
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition

Cena
€ 143,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 30. jul - 7. avg
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Edmund G. Seebauer
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 22. oktobra 2010
ISBN13 9781849968201
Založniki Springer London Ltd
Strani 298
Dimenzije 155 × 235 × 16 mm   ·   435 g
Jezik Angleščina  

Več od Edmund G. Seebauer

Prikaži vse

Več od istega **izdajatelja**