Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Knjige - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 1. februarja 2019
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

Cena
€ 50,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 30. jul - 7. avg
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Ireneusz Mrozek
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.


135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 1. februarja 2019
ISBN13 9783030081980
Založniki Springer Nature Switzerland AG
Strani 135
Dimenzije 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
Jezik Nemščina  

Več od istega **izdajatelja**