Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Knjige - Springer International Publishing AG - 9783319912035 - 18. julija 2018
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition

Cena
€ 59,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 18. avg - 1. sep
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Ireneusz Mrozek
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.


135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 18. julija 2018
ISBN13 9783319912035
Založniki Springer International Publishing AG
Strani 135
Dimenzije 150 × 220 × 20 mm   ·   454 g
Jezik Francoščina  

Več od istega **izdajatelja**