Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology - - Knjige - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156145 - 25. avgusta 2020
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology 2019 edition

Cena
€ 171,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 12. - 22. jun

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 25. avgusta 2020
ISBN13 9783030156145
Založniki Springer Nature Switzerland AG
Strani 408
Dimenzije 150 × 220 × 10 mm   ·   652 g
Jezik Nemščina  
Urednik Celano, Umberto

Mere med samme udgiver