Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Selahattin Sayil - Knjige - Springer International Publishing AG - 9783319888194 - 4. septembra 2018
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Selahattin Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques Softcover reprint of the original 1st ed. 2018 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 12. - 20. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Selahattin Sayil

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.

93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 4. septembra 2018
ISBN13 9783319888194
Založniki Springer International Publishing AG
Strani 93
Dimenzije 150 × 220 × 10 mm   ·   184 g
Jezik Nemščina  

Več od Selahattin Sayil

Prikaži vse

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Selahattin Sayil