Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics - Otwin Breitenstein - Knjige - Springer International Publishing AG - 9783319998244 - 22. januarja 2019
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Otwin Breitenstein
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics Third Edition 2018 edition

Cena
€ 152,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 5. - 13. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Otwin Breitenstein

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems.

321 pages, 68 Illustrations, color; 55 Illustrations, black and white; XVIII, 321 p. 123 illus., 68

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 22. januarja 2019
ISBN13 9783319998244
Založniki Springer International Publishing AG
Strani 321
Dimenzije 150 × 220 × 20 mm   ·   657 g
Jezik Nemščina  

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Otwin Breitenstein