Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 21. februarja 2006
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

Cena
€ 139,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 29. jun - 7. jul

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Na voljo tudi kot:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 21. februarja 2006
Prvotni datum izida 2005
ISBN13 9783540262428
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 420
Dimenzije 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Jezik Nemščina  
Urednik Bhushan, Bharat
Urednik Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver