Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - Bharat Bhushan - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540269090 - 22. februarja 2006
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

Cena
€ 139,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 23. sep - 1. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Bharat Bhushan
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 22. februarja 2006
ISBN13 9783540269090
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 378
Dimenzije 166 × 243 × 21 mm   ·   716 g
Jezik Nemščina  
Urednik Bhushan, Bharat
Urednik Fuchs, Harald

Več od Bharat Bhushan

Prikaži vse

Več od istega **izdajatelja**