Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology - Donna R. Kemp - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540373186 - 18. oktobra 2006
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st edition

Cena
€ 139,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 10. - 18. sep
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Donna R. Kemp
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.


338 pages, 7 black & white tables, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 18. oktobra 2006
ISBN13 9783540373186
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 338
Dimenzije 155 × 235 × 19 mm   ·   648 g
Jezik Angleščina  
Urednik Bhushan, Bharat
Urednik Fuchs, Harald
Urednik Kawata, Satoshi

Več od Donna R. Kemp

Prikaži vse

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Donna R. Kemp ( Na primer Hardcover Book )