Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology - - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540850380 - 4. novembra 2008
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition

Prejmite e-pošto, ko bo izdelek na voljo
Do you have a profile? Prijava

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.

279 pages, 14 black & white tables, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 4. novembra 2008
ISBN13 9783540850380
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 224
Dimenzije 162 × 244 × 16 mm   ·   594 g
Jezik Nemščina  
Urednik Bhushan, Bharat
Urednik Fuchs, Harald

Več od istega **izdajatelja**