Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology -  - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065965 - 12. februarja 2010
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Cena
€ 103,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 30. jun - 8. jul
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 12. februarja 2010
ISBN13 9783642065965
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 378
Dimenzije 155 × 235 × 21 mm   ·   639 g
Jezik Nemščina  
Urednik Bhushan, Bharat
Urednik Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver