Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences - Sascha Sadewasser - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642271137 - 30. novembra 2013
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Sascha Sadewasser
Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 12. - 20. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Sascha Sadewasser

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

290 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 30. novembra 2013
ISBN13 9783642271137
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 334
Dimenzije 156 × 236 × 23 mm   ·   485 g
Jezik Francoščina  
Urednik Glatzel, Thilo
Urednik Sadewasser, Sascha

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Sascha Sadewasser