Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology - S Morita - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642627729 - 23. oktobra 2012
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

S Morita
Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Cena
€ 214,49

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 2. - 16. sep
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca S Morita

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

458 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 23. oktobra 2012
ISBN13 9783642627729
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 440
Dimenzije 155 × 235 × 24 mm   ·   639 g
Jezik Nemščina  
Urednik Meyer, E.
Urednik Morita, S.
Urednik Wiesendanger, Roland

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh S Morita ( Na primer Paperback Book )