Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences - J. Bourgoin - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642818349 - 8. decembra 2011
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences Softcover reprint of the original 1st ed. 1983 edition

Cena
€ 96,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 24. sep - 2. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca J. Bourgoin
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

In introductory solid-state physics texts we are introduced to the concept of a perfect crystalline solid with every atom in its proper place.


295 pages, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 8. decembra 2011
ISBN13 9783642818349
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 295
Dimenzije 155 × 235 × 17 mm   ·   449 g
Jezik Angleščina  

Več od J. Bourgoin

Prikaži vse

Več od istega **izdajatelja**