Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - NanoScience and Technology - Bert Voigtlander - Knjige - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783662505571 - 13. oktobra 2016
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2015 edition

Cena
€ 189,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 1. - 9. okt
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Bert Voigtlander
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.


397 pages, 41 black & white illustrations, 148 colour illustrations, biography

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 13. oktobra 2016
ISBN13 9783662505571
Založniki Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strani 382
Dimenzije 155 × 235 × 21 mm   ·   557 g
Jezik Nemščina  

Več od Bert Voigtlander

Prikaži vse

Več od istega **izdajatelja**