Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits - Jayanthy - Knjige - Springer Verlag, Singapore - 9789811324925 - 10. oktobra 2018
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Jayanthy
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits 1st ed. 2019 edition

Cena
€ 133,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 11. - 19. nov
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Jayanthy

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults.

156 pages, 30 Tables, color; 7 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white; XI, 156 p. 4

Medij Knjige     Book
Izdano 10. oktobra 2018
ISBN13 9789811324925
Založniki Springer Verlag, Singapore
Strani 156
Dimenzije 150 × 220 × 20 mm   ·   372 g

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Jayanthy