Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits - S. Jayanthy - Knjige - Springer Verlag, Singapore - 9789811347849 - 21. decembra 2018
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

S. Jayanthy
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits Softcover Reprint of the Original 1st 2019 Edition

Cena
€ 133,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 3. - 11. dec
Božična darila lahko vrnete do 31. januarja
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca S. Jayanthy

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults.

156 pages, 30 Tables, color; 7 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white; XI, 156 p. 4

Medij Knjige     Paperback Book   (Knjiga z mehkimi platnicami in lepljenim hrbtom)
Izdano 21. decembra 2018
ISBN13 9789811347849
Založniki Springer Verlag, Singapore
Strani 156
Dimenzije 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh S. Jayanthy