X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films -  - Knjige - Springer Nature Switzerland AG - 9789819659449 - 12. avgusta 2025
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films

Cena
€ 80,99

Naročeno iz oddaljenega skladišča

Predvidena dobava 30. sep - 8. okt
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

The first chapter considers laboratory-based X-ray diffraction (XRD) methods: the indispensable X-ray characterization methods used for phase analysis, epitaxial relationship determination, advanced analytical and data fitting techniques, and grazing incidence diffraction.

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 12. avgusta 2025
ISBN13 9789819659449
Založniki Springer Nature Switzerland AG
Strani 186
Dimenzije 150 × 220 × 20 mm   ·   453 g
Urednik Evans, Paul G.
Urednik Sando, Daniel
Urednik Valanoor, Nagarajan

Več od istega **izdajatelja**