Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Knjige - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400907 - 28. junija 2006
Če se naslovnica in naslov ne ujemata, je naslov pravilen

Adam Foster
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology And Ed. edition

Prejmite e-pošto, ko bo izdelek na voljo
Do you have a profile? Prijava
Prejemajte obvestila o novih izdajah izvajalca Adam Foster

Kaj pravijo naše stranke:

14-dnevna politika vračila v skladu z evropsko zakonodajo o varstvu potrošnikov
Najvišja ocena na Trustpilot
Dodaj na svoj seznam želja iMusic

Not rated yet

Na voljo tudi kot:

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.

282 pages, biography

Medij Knjige     Hardcover Book   (Knjiga s trdim hrbtom in platnicami)
Izdano 28. junija 2006
ISBN13 9780387400907
Založniki Springer-Verlag New York Inc.
Strani 282
Dimenzije 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g

Več od Adam Foster

Prikaži vse

Več od istega **izdajatelja**

Ogled vseh Adam Foster